机译:硅基板上PZT薄膜的d_(33)系数的测量方法:双光束激光干涉仪(DBI)和单光束激光振动仪(LDV)技术的比较
机译:GaAs:Cr自适应干涉仪测定铁电薄膜的压电系数。
机译:使用新型扫描马赫曾德尔干涉仪测量锆钛酸铅薄膜/厚膜的纵向压电系数
机译:双光束激光干涉仪测量压电位移,以消除薄膜中的基板效应
机译:铁电/压电氧化物薄膜的脉冲激光结晶。
机译:硅上外延PbZr0.45Ti0.55O3薄膜的铁电和压电特性的固有稳定性与晶粒倾斜的关系
机译:使用双光束激光干涉仪在铁电薄膜中进行短时压电测量
机译:用于开发非易失性,超高密度,快速,低电压,辐射 - 硬核存储器的原子光滑外延铁电(压电)薄膜